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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB01133940>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB01133940>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 書庫B１ 549.08//1 0111927133 可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 書庫B１
請求記号 549.08//1
資料ID 0111927133
禁帯出区分 可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者名等 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
シリーズ名等 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BB07015236> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
NCID BN00059257
本文言語 日本語
著者標目 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00000757>
著者標目 浅田, 邦博||アサダ, クニヒロ <AU00119195>
著者標目 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU00130271>
分類 電子工学 NDC8:549
分類 電子工学 NDC8:549.08
分類 NDC7:549.92
分類 科学技術 NDLC:ND351
分類 科学技術 NDLC:ND386
件名 集積回路||シュウセキカイロ
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