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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <BB01200827>
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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <BB01200827>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 大学自然科学 428.4//36 0113548952 可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 大学自然科学
請求記号 428.4//36
資料ID 0113548952
禁帯出区分 可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル／著者名等 二次イオン質量分析法 / 日本表面科学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
出版事項 東京 : 丸善 , 1999.7
形態事項 vii, 195p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4621046233
シリーズ名等 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <BB07012464>//a
NCID BA42291413
本文言語 日本語
著者標目 日本表面科学会||ニホン ヒョウメン カガクカイ <AU00024943>
分類 物性物理学 NDC8:428.4
分類 物性物理学 NDC9:428.4
分類 分析化学［化学分析］ NDC9:433.6
分類 科学技術 NDLC:PA124
件名 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名 イオンビーム||イオンビーム
件名 質量分析||シツリョウブンセキ
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