武蔵大学図書館

Recurrent events data analysis for product repairs, disease recurrences, and other applications

Wayne B. Nelson. -- Society for Industrial and Applied Mathematics, 2003. -- (ASA-SIAM series on statistics and applied probability). <BB02115471>

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 洋プラ下層 417//F90 0121893382 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 洋プラ下層
請求記号 417//F90
資料ID 0121893382
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Recurrent events data analysis for product repairs, disease recurrences, and other applications / Wayne B. Nelson
出版・頒布事項 Philadelphia : Society for Industrial and Applied Mathematics , c2003
形態事項 xi, 151 p. : ill. ; 27 cm
巻号情報
ISBN 0898715229
書誌構造リンク ASA-SIAM series on statistics and applied probability <BB10001936>//a
注記 Includes bibliographical references (p. 137-142) and index
注記 HTTP:URL=http://www.loc.gov/catdir/toc/fy037/2002030864.html Information=Table of contents
学情ID BA7166864X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Nelson, Wayne, 1936- <AU10000893>
分類標目 LCC:QA276
分類標目 DC21:519.5
件名標目等 Failure time data analysis
件名標目等 Survival analysis (Biometry)